《Microelectronics Reliability》雜志的影響因子是多少？怎么查詢？

《Microelectronics Reliability》雜志影響因子是1.6。

查詢期刊影響因子的方法有多種，以下是一些建議的途徑：

1、官方網(wǎng)站查詢：訪問Web of Science的官方網(wǎng)站，該網(wǎng)站提供了全面的期刊影響因子數(shù)據(jù)。

2、通過 SCI 或 SSCI 數(shù)據(jù)庫查詢：SCI或SSCI數(shù)據(jù)庫通常每年6月更新影響因子數(shù)據(jù)，建議查詢最新年份的數(shù)據(jù)以獲取準(zhǔn)確結(jié)果。

3、通過 JCR 數(shù)據(jù)庫查詢：JCR是科睿唯安發(fā)布的期刊評價(jià)報(bào)告，提供權(quán)威的影響因子排名。

《Microelectronics Reliability》雜志基本信息

出版商：Elsevier Ltd

出版國家或地區(qū)：ENGLAND

ISSN：0026-2714，ESSN：1872-941X

出版語言：English

出版周期：Monthly

OA開放訪問：未開放

《Microelectronics Reliability》雜志排名與分區(qū)

JCR（Journal Citation Reports）分區(qū)：Q3（ 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科： ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC分區(qū)：Q3NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY分區(qū)：Q4PHYSICS, APPLIED分區(qū)：Q3 ，按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科： ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC分區(qū)：Q4NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY分區(qū)：Q4PHYSICS, APPLIED分區(qū)：Q4 ）

中科院分區(qū)大類學(xué)科：工程技術(shù)4區(qū)，小類學(xué)科：工程：電子與電氣 4區(qū)納米科技 4區(qū)物理：應(yīng)用 4區(qū)。

《Microelectronics Reliability》雜志文獻(xiàn)計(jì)量指標(biāo)

CiteScore數(shù)值：3.3

SJR：0.394

SNIP：0.801

h-index：80

Gold OA文章占比：14.36%

平均審稿速度預(yù)計(jì)： 較快,2-4周 約8.3周